Главная Обратная связь

Дисциплины:

Архитектура (936)
Биология (6393)
География (744)
История (25)
Компьютеры (1497)
Кулинария (2184)
Культура (3938)
Литература (5778)
Математика (5918)
Медицина (9278)
Механика (2776)
Образование (13883)
Политика (26404)
Правоведение (321)
Психология (56518)
Религия (1833)
Социология (23400)
Спорт (2350)
Строительство (17942)
Технология (5741)
Транспорт (14634)
Физика (1043)
Философия (440)
Финансы (17336)
Химия (4931)
Экология (6055)
Экономика (9200)
Электроника (7621)






Нормативно-правовое обеспечение деятельности по стандартизации в Украине



Виды государственных классификаторов информации

 

Госстандартом допускается использования классификаторов таких видов:

общегосударственные (государственные) классификаторы;

межотраслевые классификаторы;

отраслевые классификаторы;

классификаторы предприятий (локальные).

 

Приведем перечень основных общегосударственных и отраслевых классификаторов:

СПАТО — система обозначений автономий, территорий, областей;

УКФВ — украинский классификатор форм собственности;

КОПФГ — классификатор организационно-правовых форм хозяйствования;

ЕГРПОУ — единый государственный реестр предприятий, организаций Украины;

ЗКГНГ — общий классификатор областей народного хозяйства;

НИЗА — система обозначений органов государственного управления;

УКВ — украинский классификатор валют;

УКП — украинский классификатор продукции;

КОВ — классификатор единиц измерения;

УСГК — украинская стандартная отраслевая классификация ;

УБК — украинская бюджетная классификация;

КВПП — классификатор видов налогоплательщиков;

КБУ — классификатор банковских учреждений;

УКОЗ — украинский классификатор основных средств;

Приведем пример кодовых обозначений:

УКУД — украинский классификатор управленческих документов.

 

 

Нанотехнологии в метрологии


Одна из первоочередных задач стандартизации в нанотехнологиях – стандартизация параметров и свойств материалов, объектов, элементов и структур нанотехнологий, подлежащих измерениям. При межотраслевом и междисциплинарном характере нанотехнологий, различной терминологии и разных исследовательских и измерительных приемах и методах – это непростая, последовательно решаемая задача, несущая в себе объединяющее начало. К ней вплотную примыкает другая задача – необходимость стандартизации терминов и определений в нанотехнологиях, направленная на решение проблем общения и взаимопонимания различных групп исследователей не только внутри одной отдельно взятой страны, но и в рамках междисциплинарного обмена информацией между странами. Отсюда закономерное следствие – необходимость аттестованных и стандартизованных методик выполнения измерений, методик калибровки и поверки средств измерений, применяемых в нанотехнологиях, и многое другое, что определяется потребностями развития инфраструктуры наноиндустрии. Особый аспект стандартизации – решение задач обеспечения здоровья и безопасности операторов технологических процессов и лиц, взаимодействующих с продукцией нанотехнологий на всех этапах ее производства, испытаний, исследований и применений, а также экологической безопасности окружающей среды.



Логически следует, что «наибольший статистический вес» приходится на метрологию, поскольку именно она является количественным базисом стандартизации и сертификации. Специфика нанотехнологий привела к развитию нового направления в метрологии – нанометрологии, с которой связаны все теоретические и практические аспекты метрологического обеспечения единства измерений в нанотехнологиях. Из самого определения нанотехнологии, оперирующей с объектами нанометровой протяженности, естественным образом следует первоочередная задача измерений геометрических параметров объекта, что, в свою очередь, обусловливает необходимость обеспечения единства линейных измерений в нанометровом диапазоне. Но этим обстоятельством роль нанометрологии линейных измерений не исчерпывается. Она присутствует в неявном виде в подавляющем большинстве методов и средств обеспечения единства измерений физико-химических параметров и свойств объектов нанотехнологий, таких как механические, оптические, электрические, магнитные, акустические и т. д. Часто необходимо осуществлять прецизионное пространственное позиционирование зонда измерительного устройства в место требуемого съема измерительной информации. При этом диапазон линейного сканирования по каждой координате может простираться от единиц нанометра до сотен и более микрометров, а требуемая точность выставления координаты составлять десятые доли нанометра.

Почему в нанометрологии столь большое внимание уделяют проблеме реализации линейной шкалы в нанометровом и прилегающем к нему диапазонах? Во-первых, потому что решение первоочередной задачи метрологии в нанотехнологиях – обеспечение единства измерений геометрических параметров нанообъекта – опирается на метрологию линейных измерений. Во-вторых, как указано выше, измерения механических, электрических, магнитных, оптических и многих других параметров и свойств объектов нанотехнологии связано с необходимостью позиционирования зонда измерительного устройства в заданное место с наивысшей точностью [1, 2].



Обеспечение единства измерений физико-химических параметров и свойств объекта измерения требует привязки соответствующего средства измерений к эталону, воспроизводящему единицу данной физической величины (например, проводимости – к эталонному сопротивлению), а в нанотехнологиях в большинстве случаев – еще и обязательной привязки к базисному эталону единицы длины (рис.1) для «точности попадания в цель». Этим дуализмом не ограничивается уникальность базисного эталона. Если обратить внимание на параметры, то видно, что диапазон измерений длины от единиц нанометров до сотен и более микрометров перекрывает более пяти порядков значений измеряемой величины при точности измерений в десятые – единицы нанометра во всем диапазоне.

Линейка объектов нанотехнологий и собственно наноиндустрии чрезвычайно широка, простирается от ультрадисперсных сред до наноструктурированных многослойных материалов и кристаллов. Она включает квантоворазмерные структуры с размерностями локализации: одна – так называемые квантовые ямы (сверхтонкие слои), две – квантовые проволоки или нити, три – квантовые точки. Особенности физических эффектов и протекающих при этом процессов, в том числе оптических, люминесцентных, электрических, магнитных, механических и многих других, определяются характерным размером. Причем в одном и том же материале различные эффекты, связанные с размером, проявляются по-разному. Например, особенность оптических свойств материала в ультрадисперсном виде может проявляться при одних размерах наночастиц, а теплофизических – при других. Большинство методов исследований и измерений, которые широко применяются в наноиндустрии, – просвечивающая и растровая электронная микроскопии (РЭМ), сканирующая зондовая микроскопия, ионно-полевая микроскопия, фотоэмиссионная и рентгеновская спектрометрии и рентгеновская дифрактометрия, требуют калибровки средств измерений по стандартным образцам состава, структуры, свойств с известными размерными (то есть геометрическими) характеристиками. Например, один из известных способов определения размеров ультрадисперсных частиц заключается в изучении рассеяния света на них. Рассеяние зависит от соотношения размеров частиц, длины волны падающего излучения и поляризации. При определении размеров частиц, как правило, используется лазерное излучение, но для калибровки такого средства измерений необходим набор ультрадисперсных частиц с дискретным рядом точно заданных размеров.

При доведении широкозонных полупроводниковых соединений группы А2В6 до ультрадисперсного состояния происходит «голубое смещение» полосы люминесценции, по которому можно судить о размерах ультрадисперсных частиц люминофора. Но в каждом конкретном случае используемого полупроводникового материала для калибровки необходим набор стандартных образцов из того же материала с целым рядом размеров. При контроле технологических процессов создания многослойных тонкопленочных структур, в том числе и многослойных гетероструктур, необходимо привлечение рентгенодиагностических методов контроля скрытых слоев и, соответственно, наличие многослойных стандартных образцов состава и структуры для калибровки соответствующих средств измерений. Фундаментальные исследования, связанные с прямыми измерениями физико-химических параметров веществ и материалов нанотехнологии, элементов и устройств нанотехники, требуют понимания закономерностей взаимодействия зонда измерительного средства с объектом измерения. Особую важность приобретают вопросы метрологии и стандартизации таких измерений, метрологического обеспечения, передачи размера единицы физической величины в нанометровый диапазон [3], характеризующийся специфическими особенностями.

Первостепенной задачей опережающего развития нанометрологии считают необходимость реализации наношкалы в нанометровом и прилегающих к нему диапазонах. Именно этой первостепеннейшей задаче нанометрологии посвящаются конференции и многочисленные публикации. Отметим существенный вклад России в решение этой фундаментальной измерительной проблемы. Достижение предельных возможностей при измерениях длины в нанометровом диапазоне связано с использованием высокоразрешающих методов РЭМ и сканирующей зондовой микроскопии в сочетании с лазерной интерферометрией и рентгеновской дифрактометрией при сохранении абсолютной привязки к первичному эталону метра.

В результате длительных исследований в Украине концептуально создана основа метрологического обеспечения измерений длины в диапазоне 1 – 1000 нм.При этом разработаны: методология обеспечения единства измерений в диапазоне длин 1 – 1000 нм, включающая принципы зондовой микроскопии и лазерной интерферометрии и рентгеновской дифрактометрии; эталонный комплекс средств измерений, обеспечивающий воспроизведение и передачу размера единицы длины в диапазоне 1 – 1000 нм вещественным мерам длины с погрешностью 0,5 нм; поколение мер малой длины для калибровки средств измерений в диапазоне 1 – 1000 нм, в том числе меры нанорельефа поверхности; методология и алгоритмы измерения параметров профиля элементов микро- и наноструктур и пакет компьютерных программ для автоматизации таких измерений. Важнейший этап в решении задач метрологического обеспечения линейных измерений в нанометровом диапазоне – это создание вещественных носителей размера – мер, с программируемым нанорельефом поверхности. Они обеспечивают калибровку средств измерений с наивысшей точностью (рис. 2, 3, 4). Именно такие трехмерные меры малой длины, или эталоны сравнения, – материальные носители размера, позволяют осуществлять комплексную калибровку и контроль основных параметров растровых электронных и сканирующих зондовых микроскопов. Они предназначены для перевода этих сложных устройств из разряда устройств для визуализации исследуемого объекта в разряд средств измерений. Приборы для измерений линейных размеров объектов исследования обеспечивают привязку измеряемых величин в нанометровой области к первичному эталону единицы длины – метру [4–9].

Для аттестации эталонов сравнения используют эталонную трехмерную интерферометрическую систему измерений наноперемещений. Аттестуют шаг меры и размеры верхних и нижних оснований выступов и канавок (ширина линии), а также высоту (глубину) рельефа. Эталоны сравнения можно изготовить с разной шириной линий от 10 нм до 1500 нм и высотой рельефа от 100 нм до 1500 нм, но при одном и том же шаге структуры. Мера позволяет по одному ее изображению в РЭМ (даже по одному сигналу), что очень важно для контроля технологических процессов, выполнить калибровку микроскопа (рис.5), определить увеличение микроскопа, линейность его шкал и диаметр электронного зонда [10–15].

Кроме того, при необходимости подтвердить правильность измерений можно контролировать параметры РЭМ непосредственно в процессе проведения измерений размеров исследуемого объекта. Это является дополнительной гарантией высокого качества измерений. Мера позволяет легко автоматизировать линейные измерения и создавать на основе растровых электронных микроскопов автоматизированные измерительные комплексы. Ряд подобных комплексов уже существует. Так в НИЦПВ создан автоматизированный комплекс для линейных измерений в области размеров от 1 нм до 100 мкм на основе растрового электронного микроскопа JSM-6460LV.

Аналогичным образом по заданным параметрам меры проводятся калибровка и контроль [16–21] таких характеристик атомно-силовых микроскопов (АСМ), как цена деления и линейность шкал по всем трем координатам, ортогональность систем сканирования, радиус острия зонда (кантилевера), настройка параметров и выход микроскопа в рабочий режим (рис. 6). Системы калибровки и аттестации АСМ успешно внедряются на предприятиях, специализирующихся на создании оборудования для нанотехнологии.

Развитие нанотехнологий ужесточает требования к измерительным системам, погрешности измерений которых должны быть сравнимы с межатомными расстояниями. Все это требует серьезного отношения к вопросу обеспечения единства линейных измерений в нанометровом диапазоне. РЭМ и сканирующий зондовый микроскопы только тогда могут считаться средствами измерений, когда их параметры будут соответствующим образом аттестовываться, калиброваться и контролироваться, причем последнее непосредственно в процессе измерений. Трехмерные меры или эталоны сравнения – материальные носители размера – своеобразный мост между объектом измерений и эталоном метра, являются идеальным средством для осуществления таких операций. Важно одно: культура измерений требует, чтобы любой растровый электронный или сканирующий зондовый микроскоп, независимо от того, где он находится – в научной или промышленной лаборатории, учебном заведении или участвует в технологическом процессе, – должен быть укомплектован мерами, обеспечивающими калибровку и контроль параметров этого сложного устройства. Только тогда измерения, производимые на нем, могут претендовать на достоверность. Кроме того, использование методов и средств калибровки и аттестации растровых электронных и сканирующих зондовых микроскопов производителями соответствующих приборов позволит им создавать новые приборы с лучшими характеристиками, которые, в свою очередь, позволят продвинуться дальше на пути развития нанотехнологий.

Для обеспечения нормативной базы нанометрологии, разработаны и введены в действие семь российских стандарта [22]: ГОСТ Р 8.628—2007 «Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления»; ГОСТ Р 8.629—2007 «Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки»; ГОСТ Р 8.630—2007 «Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки»; ГОСТ Р 8.631—2007 «Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки»; ГОСТ Р 8.635—2007 «Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки»; ГОСТ Р 8.636—2007 «Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки»; ОСТ Р 8.644 – 2008 «Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки».

Для решения научно-технической проблемы обеспечения единства измерений в нанотехнологиях необходимо осуществить ряд научно-методических, технических и организационных мероприятий. В первую очередь, это создание новой структурной схемы передачи размера единиц физических величин от первичных эталонов рабочим средствам измерений. Она исключает многоступенчатость передачи. В этот комплекс мероприятий входят: фундаментальные исследования механизмов взаимодействия зондов измерительных систем с объектом измерения; разработка новых алгоритмов измерений и соответствующего им математического обеспечения, учитывающего влияние взаимодействия рабочего средства измерений с измеряемым объектом; создание новых мер – материальных носителей размера, обладающих свойствами, аналогичными свойствам вторичного эталона и измеряемого объекта; разработка и создание стандартных образцов состава, структуры и рельефа поверхности и стандартизованных методик измерений в нанометрии, обеспечивающих прослеживаемость передачи размера единицы физической величины от эталона рабочим средствам измерений в нанометровый диапазон без существенной потери точности для аттестации, калибровки и поверки средств измерений.Дело за немногим – необходима гармонизированная система стандартных образцов состава, структуры и свойств, служащих потребностям нанотехнологий. Все это создает предпосылки и закладывает основы ускоренного развития высоких технологий в России, и особенно главной из них – нанотехнологи

 

Нормативно-правовое обеспечение деятельности по стандартизации в Украине

Технические регламенты и прочие нормативно-правовые акты устанавливают обязательные требования относительно:

 

защиты жизни, здоровье и имущества человека;

 

защиты животных, растений;

 

охраны окружающая среда;

 

безопасности продукции, процессов или услуг;

 

предотвращение введению в девясила относительно назначения и безопасности продукции;

 

устранение угрозы для национальной безопасности.

 

В случае ссылки на стандарты в технических регламентах, других нормативно-правовых актах отмечается, есть ли соблюдение определенных стандартов единым или только одним из путей выполнения требований этих документов. Производитель или поставщик может доказать, что продукция, выработанная без применения этих стандартов, отвечает требованиям

соответствующих технических регламентов или других нормативно-правовых актов.

 

В случае возникновения объективных препятствий для применения определенн обязательн требовани национальн стандарт производител ли поставщик продукции обязанный сообщить об этом центральный орган исполнительной власти в сфере стандартизации. Одновременно производитель может обратиться в центральный орган исполнительной власти в сфере стандартизации с предложениями относительно отмены, внеочередного просмотра и внесения соответствующих изменений в этот стандарт, или с обгрунтованим ходатайством о предоставлении разрешения на временный выпуск продукции с отклонениями от указанных обязательных требований. Центральный орган исполнительной власти в сфере стандартизации изучает

обгрунтованість обращение производителя, проводит в случае необходимости необходимые экспертизы и при наличии подставь после согласования из соответствующим центральным органом исполнительной власти, которая осуществляет контроль за соблюдением соответствующих требований национального стандарта, может предоставить такое разрешение и установить ограничение срока его действия.

 

В случае изготовления продукции на экспорт, если соглашением (контрактом) определены другие требования, чем те, что установленные техническими регламентами или другими нормативно-правовыми актами Украины, разрешается применять нормы соглашения (контракта), если они не противоречат законодательству Украины в части требований к

процессу изготовления продукции, ее сохранение и транспортирование на территории Украины.

 

Государственный надзор за соблюдением требований технических регламентов или других нормативно-правовых актов осуществляется в порядке, установленному законодательством.

 

Лица, виновные в нарушении законодательства в сфере стандартизации, несут ответственность в соответствии с законами Украины.

 

 

97. Нормативно-правовое обеспечение деятельности по сертификации в Украине.

Стаття 13. Види сертифікації та її мета

Сертифікація продукції в Україні поділяється на обов'язкову
та добровільну. Сертифікація продукції здійснюється уповноваженими на те
органами з сертифікації - підприємствами, установами і
організаціями з метою: запобігання реалізації продукції, небезпечної для життя,
здоров'я та майна громадян і навколишнього природного середовища; сприяння споживачеві в компетентному виборі продукції; створення умов для участі суб'єктів підприємницької
діяльності в міжнародному економічному, науково-технічному
співробітництві та міжнародній торгівлі.

Стаття 14. Державна система сертифікації

1. Державну систему сертифікації створює центральний орган
виконавчої влади з питань технічного регулювання - національний
орган України з сертифікації, який проводить та координує роботу
щодо забезпечення її функціонування, а саме: визначає основні принципи, структуру та правила системи
сертифікації в Україні; затверджує переліки продукції, що підлягає обов'язковій
сертифікації, та визначає терміни її запровадження; призначає органи з сертифікації продукції;

{ Абзац п'ятий статті 14 виключено на підставі Закону
N 543-IV ( 543-15 ) від 20.02.2003 }

встановлює правила визнання сертифікатів інших країн; розглядає спірні питання з випробувань і дотримання правил
сертифікації продукції; веде Реєстр державної системи сертифікації; організує інформаційне забезпечення з питань сертифікації. Центральний орган виконавчої влади з питань технічного
регулювання в межах своєї компетенції несе відповідальність за
дотримання правил і порядку сертифікації продукції.


99. СУЩНОСТЬ ЗАКОНА УКРАИНЫ «Про единство измерения» Вимі́рювання — пізнавальний процес визначення числового значення вимірюваної величини, а також дія, спрямована на знаходження значення фізичної величини дослідним шляхом, порівнюючи її з одиницею вимірювання за допомогою засобів вимірювальної техніки.

Числове значення вимірюваної величини — число, яке виражає відношення між двома величинами однакової природи — вимірюваною й умовною одиницею вимірювання.

Згідно із Законом України «Про метрологію та метрологічну діяльність» та ДСТУ 2681-94:

Вимірювання — відображення фізичних величин їх значеннями за допомогою експерименту та обчислень із застосуванням спеціальних технічних засобів[1][2].

У цьому визначенні закладені наступні головні ознаки поняття «вимірювання»:

· вимірювати можна властивості реально існуючих об'єктів пізнання — фізичні величини;

· вимірювання вимагає проведення дослідів, тобто теоретичні міркування чи розрахунки не замінять експеримент;

· результатом вимірювання є фізична величина, відбиває значення вимірюваної величини.

Єдність вимірювань — стан вимірювань, коли результати виражені в узаконених одиницях, а похибки результатів вимірювань відомі із заданоюймовірністю та не виходять поза задані межі. Єдність вимірювань необхідна для забезпечення порівняльності результатів вимірювань, проведених у різних місцях, в різний час з використанням різних методів і засобів вимірювання.

Сутність

 

В науці вимірювання є одним з основних засобів пізнання навколишнього світу, в результаті якого отримується вимірювальна інформація. Вимірювання може відбуватись з використанням як безшкального засобу вимірювання (напр., калібр (вимірювання)), так і шкальними приладами вимірювання (лінійка, ваги, витратомір, акселерометр, спідометр та ін.).

Сутність найпростішого вимірювання полягає в порівнянні розміру фізичної величини з розмірами вихідної величини регульованої багатозначної міри . У результаті порівняння встановлюють, що: .

Звідси виходить, що

,

де — функція, що виділяє цілу частину числа [3].

Основне рівняння вимірювання має такий вигляд:

,

де

— значення фізичної величини, оцінка розміру величини у вигляді деякого числа прийнятих для неї величин. Числа — це результати вимірювань, вони можуть використані для будь-яких математичних операцій.

— числове значення фізичної величини, абстрактне число, що відображає відношення значення величини до відповідної одиниці даної фізичної величини.

— одиниця фізичної величини, тобто це фізична величина фіксованого розміру, якому умовно присвоєно числове значення, рівне одиниці.

Права частина рівняння називається числовим значенням вимірюваної величини.

 

 


Эта страница нарушает авторские права

allrefrs.ru - 2019 год. Все права принадлежат их авторам!